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集成电路 (IC) - 接口 - 专用 - Texas Instruments - 8V18646AIPMREP - IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
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8V18646AIPMREP|Texas Instruments
声明：图片仅供参考，请以实物为准！
8V18646AIPMREP
制造商型号： 8V18646AIPMREP
制造商： Texas Instruments
描述： IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
技术参考： Rohs PDF查询
库存状态： 实时库存查询  所在地：深圳全新原装现货
备注： 代理销售世界各大品牌电子元器件，大量全新原装正品现货
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详细参数
标准包装 ： 1
系列 ： SCOPE™, Widebus™
应用 ： 电路板测试
接口 ： 4 导线测试访问端口 (TAP)
电源电压 ： 2.7 V ~ 3.6 V
封装/外壳 ： 64-LQFP
供应商设备封装 ： 64-LQFP (10x10)
包装 ： 剪切带 (CT)
安装类型 ： 表面贴装

旗下站点www.szcwdz.com相关详细信息: 8V18646AIPMREP
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