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集成电路 (IC) - 专用逻辑 - Texas Instruments - 8V182512IDGGREP - IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
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8V182512IDGGREP|Texas Instruments
声明：图片仅供参考，请以实物为准！
8V182512IDGGREP
制造商型号： 8V182512IDGGREP
制造商： Texas Instruments
描述： IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
技术参考： Rohs PDF查询
库存状态： 实时库存查询  所在地：深圳全新原装现货
备注： 代理销售世界各大品牌电子元器件，大量全新原装正品现货
订购热线： 400-900-3095, QQ:800152669, Email:sales@szcwdz.com
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详细参数
标准包装 ： 1
系列 ： -
逻辑类型 ： ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器
电源电压 ： 2.7 V ~ 3.6 V
位数 ： 18
工作温度 ： -40°C ~ 85°C
安装类型 ： 表面贴装
封装/外壳 ： 64-TFSOP （0.240", 6.10mm 宽）
供应商设备封装 ： 64-TSSOP
包装 ： 剪切带 (CT)

旗下站点www.szcwdz.com相关详细信息: 8V182512IDGGREP
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