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集成电路 (IC) - 专用逻辑 - Texas Instruments - SN74BCT8373ADWRE4 - IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
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SN74BCT8373ADWRE4|Texas Instruments
声明：图片仅供参考，请以实物为准！
SN74BCT8373ADWRE4
制造商型号： SN74BCT8373ADWRE4
制造商： Texas Instruments
描述： IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
技术参考： Rohs PDF查询
库存状态： 实时库存查询  所在地：深圳全新原装现货
备注： 代理销售世界各大品牌电子元器件，大量全新原装正品现货
订购热线： 400-900-3095, QQ:800152669, Email:sales@szcwdz.com
由于产品数据库庞大，部分产品信息可能未能及时更新，下单前请与销售人员确认好实时在库数量，谢谢合作！
详细参数
标准包装 ： 2,000
系列 ： 74BCT
逻辑类型 ： 扫描测试设备，带 D 型锁存器
电源电压 ： 4.5 V ~ 5.5 V
位数 ： 8
工作温度 ： 0°C ~ 70°C
安装类型 ： 表面贴装
封装/外壳 ： 24-SOIC（0.295", 7.50mm 宽）
供应商设备封装 ： 24-SOIC
包装 ： 带卷 (TR)

旗下站点www.szcwdz.com相关详细信息: SN74BCT8373ADWRE4
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